課時安排

共計4節，每節課50分鐘講解+10分鐘答疑。
 

課程內容

第一講 AFM 的基礎知識及工作原理

1.1 認識微觀世界的重要工具——顯微鏡

1.2 AFM 的發展歷史

1.3 AFM 成像的基本原理

1.4 AFM 的儀器組成

1.5 AFM 成像的應用及示例

1.6 AFM 的優勢與不足

第二講 AFM 針尖基礎及 AFM 工作模式

2.1 AFM 針尖基礎

2.1.1 探針與樣品間的作用力

2.1.2 針尖類型及選擇

2.2 AFM 工作模式簡介

2.3 幾種成像模式的原理及優缺點

2.3.1 Contact 模式

2.3.2 Tapping 模式

2.3.3 Peak-force 模式等

第三講 AFM 其它應用簡介及 AFM 樣品的制備

3.1 AFM 其它應用簡介

3.1.1 力學性能測量

3.1.2 電學性能測量

3.1.3 磁學性能測量

3.2 AFM 樣品的制備

3.2.1 納米粉體材料

3.2.2 塊體材料

3.2.3 大分子

3.2.4 細胞

3.3 AFM 數據處理及分析

第四講 AFM 數據處理分析及常見圖像假象

4.1 AFM 數據處理分析

4.2 AFM 常見圖像假象

4.2.1 針尖因素

4.2.2 樣品因素

4.2.3 掃描參數因素
 

講師介紹

曹老師，2008年中國科學院博士畢業，211高校從教至今。主要從事分子自組裝及納米生物材料的開發應用研究，承擔國家自然科學基金面上項目及青年基金項目多項，省部級項目及橫向項目等十余項；發表SCI學術論文70余篇，收錄在Coordin. Chem. Rev., ACS Appl. Mater. Interface Sci., J. Mater. Chem. A, Biomacromolecules, Langmuir等期刊；申請發明專利16項，授權9項。曹老師從碩/博士開始一直從事原子力顯微鏡的測試與表征，并進行儀器的管理和維護工作，在此領域具有豐富的經驗。