透射電子顯微鏡(TEM)是材料分析的重要手段之一。本講座針對不同類型的透鏡數據(包括照片的編輯、處理、測量,以及電子能量損失譜)給出常用的分析方法,輔以實例,旨在讓廣大科研工作者了解并掌握材料科學分析中常用的透射電鏡數據分析方法,充分活用透射電鏡技術,并解決實際問題。
內容綱要
1) 透射電鏡數據概述
介紹常見的透射電鏡數據類型、導入導出以及格式轉換
2) 透射電鏡數據分析軟件DigitalMicrograph(免費版)介紹
簡單介紹軟件的獲取、安裝及使用
3) 實例一:透射電鏡照片的簡單編輯和處理
使用DigitalMicrograph軟件對電鏡照片進行標定、裁剪、旋轉、標注,以及在科研中允許的圖片處理包括調整亮度對比度、上色、濾鏡等
4) 實例二:電子衍射照片及高分辨電鏡照片的分析(測量)方法
使用DigitalMicrograph對電子衍射照片的直接測量并計算面間距,標定面指數及入射方向;對高分辨照片使用快速傅里葉變換(FFT)進行測量分析
5) 實例三:電子能量損失譜(EELS)曲線及面掃描數據的分析
EELS譜線的簡單分析包括去背底、曲線抽出、厚度分析、以及元素定量分析、生成元素面掃描圖等
授課時間
2020年4月11日上午10點-12點
講師介紹
馬老師,海外知名大學博士,現為美國某top10大學任透射電子顯微鏡儀器科學家。長期從事透射電子顯微鏡對材料的表征工作,熟悉各種透射電鏡相關技術,并有豐富的講授經驗。利用透射電子顯微鏡技術發表過多篇高水平學術論文。已在材料人APP內講過STEM課程。
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文旺 (2020-06-20) |
回復TA |
晶帶軸公式中 第三部分應該是(h1k2-h2k1)l